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產(chǎn)品型號：Leica EM TXP
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價格：
折 扣 率： 0
最后更新：2023-02-01
關(guān) 注 度：2123
生產(chǎn)企業(yè)：圓派科學(xué)儀器（上海）有限公司
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產(chǎn)品詳細介紹全新的精研一體機
LEICA EM TXP
LEICA EM TXP是一款*特的可對目標(biāo)區(qū)域進行**定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、
拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對目標(biāo)精細定位或需對肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進行定點處理。有了
Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。
在 Leica EM TXP 之前，針對目標(biāo)區(qū)域進行定點切割，研磨或拋光等通常是一項耗時耗力，很困難的工作，因為目標(biāo)區(qū)域*易丟失
或者由于目標(biāo)尺寸太小而難以處理。使用 LeicaEM TXP ，此類樣品都可被輕易處理完成。
另外，借助其多功能的特點，Leica EM TXP 也是一款可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的*高效的前制樣工具。
與觀察體系合為一體
在顯微鏡下觀察整個樣品處理過程和目標(biāo)區(qū)域?qū)悠饭潭ㄔ跇悠窇冶凵希跇悠诽幚磉^程中，通過立體顯微鏡可對樣品進行實時觀
察，觀察角度0°至60°可調(diào)，或者調(diào)至 -30°，則可通過目鏡標(biāo)尺進行距離測量。Leica EMTXP 還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以
便獲得*佳視覺觀察效果。
> 對微小目標(biāo)區(qū)域進行**定位和樣品制備
> 通過立體顯微鏡實現(xiàn)原位觀察
> 多功能化機械處理
> 自動化樣品處理過程控制
> 可獲得平如鏡面的拋光效果
> LED 環(huán)形光源亮度可調(diào)，4分割區(qū)段可選
為微尺度制樣而生
對毫米和微米尺度的微小目標(biāo)進行定位、切割、研磨、拋光是一項具有挑戰(zhàn)性的工作，主要困難來自：
> 目標(biāo)太小，不容易觀察
> **目標(biāo)定位，或?qū)δ繕?biāo)進行角度校準很困難
> 研磨、拋光到指定目標(biāo)位置常需花費大量人力和時間
> 微小目標(biāo)*易丟失
> 樣品尺寸小，難以操作，往往不得不鑲嵌包埋
***顯微觀察及成像系統(tǒng)
Leica M80 立體顯微鏡
> 平行光路設(shè)計：通過**主物鏡形成平行光路，焦平面一致
> 高倍分辨率：所有變倍比下都有非常好的圖像質(zhì)量和穩(wěn)定的光強
> 人體工學(xué)設(shè)計，無肌肉緊張感和疲勞感
Leica IC80 HD 高清攝像頭
> 無縫設(shè)計：安裝在光學(xué)頭和雙目筒之間，無需添加顯像管或光電管
> 高品質(zhì)圖像：與顯微鏡共軸光路確保圖像質(zhì)量及獲得無反光圖像
> 提供動態(tài)高清圖像，連接或斷開計算機均可使用
4 分割區(qū)段亮度可調(diào) LED 環(huán)形光源
> 不同角度照明顯露樣品微小細節(jié)
Leica Application Suite (LAS 圖像測量與分析軟件)*
> 實現(xiàn)數(shù)字化成像
> 可對圖像進行處理和分析
多種方式制備處理樣品
樣品無需轉(zhuǎn)移，只需切換工具
不需要來回轉(zhuǎn)移樣品，只需要簡單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過程，并且樣品處理全過程都可通過顯微鏡進行實時觀察。出于**考慮，工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋�透明的**罩，可避免在樣品處理過程中操作者不小心觸碰到運轉(zhuǎn)部件，又可防止碎屑飛濺。
LEICA EM TXP可對樣品進行如下處理：
> 銑削
> 切割
> 研磨
> 拋光
> 沖鉆
制樣過程
應(yīng)用舉例
（1）對PCB板中的通孔的截面進行處理
（2）對IC中金線焊接點的定點切割拋光處理
（3）顆粒樣品未經(jīng)包埋，粘在樣品臺上制樣
（4）手表中螺母螺帽
（5）鍍鉻的器件上的微小缺陷
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